Theo TechNewsSpace, các nhà khoa học từ Đại học Florida (Mỹ) đã trình bày nghiên cứu cho thấy sạc không dây có thể bị lợi dụng để thực hiện các hành động phá hoại. Nghiên cứu cho thấy kẻ tấn công có thể thao túng hoặc thậm chí phá hủy các thiết bị bằng cách sử dụng sạc không dây.

Cụ thể, các nhà nghiên cứu gọi phương pháp của họ là VoltSchemer, gồm các kiểu tấn công mới giúp kẻ xấu kiểm soát các bộ sạc không dây. Các cuộc tấn công này được thực hiện bằng cách thay đổi điện áp đầu ra của thiết bị, từ đó tạo ra nhiễu điện từ. Chúng có thể được sử dụng để gọi các lệnh thoại trên điện thoại thông minh hoặc làm hỏng thiết bị.

Thử nghiệm phương pháp tấn công VoltSchemer 

Bộ sạc chuẩn Qi sử dụng giao thức truyền tải điện năng qua giao tiếp ở khoảng cách gần trong quá trình hoạt động để đảm bảo sạc an toàn, quá trình này sẽ dừng lại khi pin trên thiết bị được sạc đầy. Nhưng giao thức này có thể bị thao túng và vô hiệu hóa các cơ chế bảo vệ, làm bước đệm cho việc phá hỏng những thiết bị đang sạc. Ví dụ, Samsung Galaxy S8 trong thử nghiệm có thể nóng lên đến 81 độ C.

Ngoài điện thoại thông minh, phương pháp tấn công này còn có thể đe dọa đến các vật bằng kim loại khác có thể nằm trên bề mặt của bộ sạc. Chẳng hạn, thanh kẹp bướm bằng kim loại trên sổ ghi chép có thể nóng lên đến 280 độ C, ổ flash USB sẽ bị nóng chảy khi nhiệt độ bị đẩy lên 174 độ C hoặc SSD bị quá nhiệt với 218 độ C sẽ dẫn đến mất dữ liệu.

Thử nghiệm hack vào sạc không dây, cho thấy kết quả đáng lo ngại

Nhưng các nhà nghiên cứu cho biết kiểu tấn công này không dễ thực hiện; vì nó đòi hỏi quyền truy cập vật lý vào bộ sạc không dây. Mặc dù vậy, các tác giả của nghiên cứu đã liên hệ với các nhà sản xuất thiết bị sạc để khắc phục lỗ hổng và ngăn chặn vấn đề này xảy ra trong tương lai.

Theo Phong Đỗ/ Thanh niên

https://thanhnien.vn/bo-sac-khong-day-co-the-bi-hack-de-gay-chay-no-smartphone-18524022609282306.htm